專注檢測儀器的研發與生產
熱學分析儀器專業制造商
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品牌 大展 溫度范圍 室溫~1200℃ 可擴展至~1450℃ 溫度分辨率 0.01℃ 溫度波動 ±0.1℃ 升溫速率 0.1~80℃/min 溫控方式 PID算法控制， 升溫、恒溫、降溫 恒溫時間 0～300min任意設定 程序控制 多段程序控制 天平測量范圍 1mg～3g可擴展至10g
品牌 大展 溫度范圍 室溫~1200℃ 可擴展至~1450℃ 溫度分辨率 0.01℃ 溫度波動 ±0.1℃ 升溫速率 0.1~80℃/min 溫控方式 PID算法控制， 升溫、恒溫、降溫 恒溫時間 0～300min任意設定 程序控制 多段程序控制 天平測量范圍 1mg～3g可擴展至10g DSC量程 0～±500mW
品牌 大展 溫度范圍 室溫~1200℃ 可擴展至~1450℃ 溫度分辨率 0.01℃ 溫度波動 ±0.1℃ 升溫速率 0.1~80℃/min 溫控方式 PID算法控制， 升溫、恒溫、降溫 恒溫時間 0～300min任意設定 程序控制 多段程序控制 天平測量范圍 1mg～3g可擴展至10g DSC量程 0～±500mW
STA-200同步熱分析儀將熱重分析TG與差熱分析DTA或差示掃描量熱DSC結合為一體，在同一次測量中利用同一樣品可同步得到TG與DTA或DSC的信息。
